های پات Hipot

های پات

این تست برای تعیین کیفیت عایق های الکتریکی برای عبور معمول ولتاژ های بالا مورد استفاده قرار می گیرد. پس به طور کلی این تست به منظور تشخیص قدرت عایقی بین قسمت های حامل جریان و غیر حامل جریان بکار می رود و همچنین برای بررسی شرایط عایق در اثر فشاری که به صورت تصادفی و ناخواسته به تابلو ها، دستگاه یا تجهیزات وارد می شود مورد استفاده قرار می گیرد.
تفاوت تست عایق میگر و hipot در دامنه ولتاژ اعمالی و زمان تست می باشد.
تست میگر معمولا با ولتاژ های کمتر از ولتاژ نامی هادی انجام می شود و در نتیجه به تجهیز تحت تست آسیبی وارد نمی شود. در حالی که آزمایش پتانسیل بالا (hi-pot) ولتاژ بیش از ولتاژ نامی هادی و در نتیجه فشارهای الکتریکی زیادی را به عایق اعمال می کند تا به طور فعال باعث شکست در یک نقطه مانند انتهای کابل های ضعیف از نظر عایق بودن کابل شود. لازم به ذکر است تست HIPOT نسبت به محیطی که تست در آن انجام می شود حساس است و اگر تست به درستی انجام نشود می تواند به عایق تحت تست آسیب وارد کند. به همین دلیل آن را تست مخرب در نظر گرفته اند.